TH9120A/TH9120D 交/直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀是針對(duì)高壓光耦合器及高壓繼電器、高壓開關(guān)、PV模組等絕緣耐受力較高的器件提供高壓的耐壓測(cè)試與分析。
在耐壓測(cè)試方面,輸出功率 AC:200VA(10kV、20mA),DC:120VA(12kV、 10mA),因此可用來為高耐壓的定子、電機(jī)等設(shè)備做耐壓測(cè)試,也可以對(duì)零件做同樣的測(cè)試。在絕緣電阻測(cè)試方面,所能顯示范圍為 0.1MΩ~50GΩ,測(cè)試電壓為 50V~5000V 可任意設(shè)定。在開短路檢測(cè)測(cè)試方面,可在進(jìn)行高壓測(cè)試前,先判斷被測(cè)件是否可靠連接,再進(jìn)行高壓測(cè)試。在顯示方面,所有的測(cè)試模式、時(shí)間、電壓、電流、電阻值、測(cè)試步驟等都在顯示器上顯示,另有列表顯示模式,顯示多步驟的設(shè)置及順序測(cè)試結(jié)果。
儀器標(biāo)配HANDLER(機(jī)械手接口)、RS-232、LAN、USB DEVICE、USB HOST;選配GPIB接口,無論是連接上位機(jī)、PLC、自動(dòng)化系統(tǒng)都得心應(yīng)手。一件截屏、一鍵記錄功能方便將測(cè)試結(jié)果保存至U盤可定制上位機(jī)軟件,操作更靈活,記錄更方便。
功能特點(diǎn)
A.絕緣崩潰檢測(cè)
常規(guī)測(cè)試耐壓,如圖A-1所示,只是設(shè)定了上升時(shí)間和測(cè)試電壓值,如果在測(cè)試時(shí)間內(nèi),被測(cè)件出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象,則判斷耐壓**,直接切斷測(cè)試電壓。因此,常規(guī)耐壓檢測(cè)僅能判斷在指定電壓下耐壓是否合格。
但是有些被動(dòng)組件或者材料,需要檢測(cè)其高壓耐受程度,并得出準(zhǔn)確的崩潰電壓值,那么常規(guī)的耐壓檢測(cè)方法就無能為力了。因此TH9120A/TH9120D增加了崩潰電壓檢測(cè)功能,如圖A-2所示,崩潰電壓測(cè)試功能是根據(jù)設(shè)定爬升的起始電壓、截止電壓、電壓步進(jìn)及時(shí)間間隔,逐漸對(duì)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量,當(dāng)被測(cè)件出現(xiàn)耐壓絕緣**的現(xiàn)象后,自動(dòng)保存此時(shí)的電壓值即為崩潰電壓。
如果電壓值爬升到截止電壓,被測(cè)件仍未出現(xiàn)崩潰現(xiàn)象,則可以重新設(shè)置截止電壓等,進(jìn)行進(jìn)一步分析,直至得到正確的崩潰電壓值。崩潰電壓測(cè)試模式,可以對(duì)被測(cè)件進(jìn)行分析,準(zhǔn)確獲知產(chǎn)生絕緣**的耐壓程度,研究人員由此可針對(duì)組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。
B. 耐壓絕緣測(cè)試和電弧偵測(cè)(ARC)
耐壓**是指在耐壓測(cè)試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生。現(xiàn)在耐壓絕緣測(cè)試已經(jīng)成為各類電器設(shè)備和絕緣材料**測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完全解決產(chǎn)品**問題,另一類現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測(cè)試中越來越得到重視,放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性,所以ARC偵測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。
以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象:
a) 當(dāng)材料承受較高電壓,電場(chǎng)強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí),會(huì)讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象,此時(shí)會(huì)在材料表面形成打火并對(duì)材料形成溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的打火和溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變,進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化,使得電壓耐受程度下降,*終發(fā)生絕緣失效。
b) 被測(cè)件檢測(cè)點(diǎn)間距過小時(shí),在被測(cè)件兩端施加較高電壓,檢測(cè)點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì)被電離,形成打火現(xiàn)象,也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電,在測(cè)試過程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號(hào)如圖,電弧偵測(cè)(ARC)功能是用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè),判斷出材料絕緣性能是否有**。
C. 開短路偵測(cè)功能(僅TH9120A)
在耐壓測(cè)試過程中由于被測(cè)件與測(cè)試線接觸**、測(cè)試線損壞等,會(huì)發(fā)生開路現(xiàn)象,導(dǎo)致**品誤判為良品;被測(cè)件損壞或者被測(cè)端間距太小導(dǎo)致測(cè)試線短路現(xiàn)象,使用OCS功能,儀器可預(yù)先偵知測(cè)試端開短路情況,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測(cè)試成本。
一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(CDUT),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間。開路時(shí)可等效為串聯(lián)一個(gè)低于10pF的小電容COPEN,使總?cè)萘窟h(yuǎn)低于正常產(chǎn)品。短路時(shí)電容量遠(yuǎn)大于正常容量。因此可利用電容量變化之上下限值判斷,減少產(chǎn)線接觸**的問題發(fā)生。
D. 引腳檢測(cè)(接觸檢查功能)
對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查問題,除OSC功能外,還增加了引腳檢測(cè)功能(圖D),確保被測(cè)件與測(cè)試線連接可靠,提升測(cè)試可靠度與效率。
E. 后面板輸出功能
可在儀器后面板輸出高壓(圖E),自動(dòng)化測(cè)試或系統(tǒng)集成接線更美觀,更方便。